2024/1/24
支持Sic/Gan晶圆测试,大功率晶圆测试; 更换Chuck设计,可针对不同晶圆测试; 可与仪器仪表系统进行集成; 可升级高低温测试环境测试
| 产品型号 | A8、A12 | 工作环境 | 开放式 |
| 电力需求 | 220V,50/60Hz | 操控方式 | 全自动 |
| 产品尺寸 | A8(1124 x 1111 x 925) ;A12(1600 x 1660 x 1450) | 设备重量 | 1.2T, 2T |
晶圆测试、各类器件、Wafer等进行I-V、C-V、光信号、RF、1/f噪声等特性分析、射频测试等
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